平面平晶檢測(cè)干涉儀

產(chǎn)地/品牌：慧利

型      號(hào)： HOOLL9600A

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最后更新：2020-12-04

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冠乾科技（上海）有限公司

Obducat納米壓印EITRE® 3

產(chǎn)地/品牌：Obducat

型      號(hào)： EITRE® 3

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最后更新：2020-12-04

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冠乾科技（上海）有限公司

掃描電鏡/FIB原位納米壓痕儀Hysitron PI 88

產(chǎn)地/品牌：布魯克

型      號(hào)： Hysitron PI 88

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最后更新：2020-12-04

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冠乾科技（上海）有限公司

布魯克Hysitron PI 95透射電鏡測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌：布魯克

型      號(hào)： Hysitron PI 95

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最后更新：2020-12-04

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冠乾科技（上海）有限公司

NILT納米壓印儀

產(chǎn)地/品牌：NILT

型      號(hào)： NILT

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冠乾科技（上海）有限公司

布魯克3D光學(xué)輪廓儀

產(chǎn)地/品牌：布魯克

型      號(hào)： Contour GT

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DektakXT臺(tái)階儀,表面輪廓儀

產(chǎn)地/品牌：布魯克

型      號(hào)： DektakXT

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冠乾科技（上海）有限公司

球面鏡輪廓儀

產(chǎn)地/品牌：慧利

型      號(hào)： HOOL L8400A

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納米材料狹縫涂布儀

產(chǎn)地/品牌：nTact

型      號(hào)： nRad

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Bruker摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)UMT

產(chǎn)地/品牌：布魯克

型      號(hào)： Bruker

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冠乾科技（上海）有限公司

布魯克TI Premier 高精度納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌：布魯克

型      號(hào)： TI Premier

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冠乾科技（上海）有限公司

多普勒激光測(cè)振儀Memsmap 510

產(chǎn)地/品牌：挪威Optonor

型      號(hào)： Memsmap 510

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