在使用掃描電鏡的過程中，
您是否總是遭遇如下問題：
 
1. 在不同設備間切換樣品時總需耗費大量時間重新定位感興趣區(qū)域
2. 總是為獲取大面積高分辨圖像而苦惱，需要頻繁切換成像參數(shù)，調整像散聚焦
3. 得到圖像后又在為圖像的量化分析而發(fā)愁
 
針對以上的困擾和需求，蔡司對掃描電鏡進行了全方位武裝，特別推出智能電鏡解決方案，解決以上提到的所有問題，最大程度確保您日常檢測和分析工作的順暢與高效。
 
01 關聯(lián)定位分析
 
蔡司Connect模塊輕松實現(xiàn)光學顯微鏡到掃描電鏡的橋接，快速實現(xiàn)樣品在不同設備間的重新定位，還能統(tǒng)一管理關聯(lián)設備的數(shù)據(jù)和信息
 
✓ 關聯(lián)定位：通過關聯(lián)樣品臺實現(xiàn)樣品在不同顯微鏡設備之間自動關聯(lián)重定位，大幅縮減操作用時
✓ 數(shù)據(jù)疊加：自由疊加來自手機，光學顯微鏡，掃描電鏡的信息以及相關能譜信息
✓ 統(tǒng)一管理：管理來自不同關聯(lián)設備的數(shù)據(jù)，輸出不同信息疊加圖像和視頻
     

02 自動成像
 
蔡司SmartSEM Touch定制軟件，全面兼顧參數(shù)設置，成像，自動化拼圖，圖像瀏覽，實現(xiàn)智能高效的掃描電鏡成像
 
✓ 向導式操作流程，界面簡潔，操作簡單
✓ 根據(jù)樣品智能匹配成像參數(shù)，實現(xiàn)自動聚焦
✓ 簡單操作即可完成高通量圖像拍攝和拼接
   

03 量化分析
 
蔡司ZEN模塊實現(xiàn)從電鏡圖像獲取，圖像處理，圖像分割，自動測量到報告生成的整個量化分析流程
 
✓ 一鍵獲取掃描電鏡圖像，向導式的分析工作流程，毫無經(jīng)驗的新手也可輕松掌握
✓ 基于機器學習的ZEN Intellesis模塊輕松實現(xiàn)傳統(tǒng)閾值方法難以達成的圖像處理需求
✓ 豐富的測量功能，如顆粒統(tǒng)計分析，孔隙率，含量百分比，層厚測量，晶粒度評級等
   

▲滿足多種測量需求——高級測量	▲顆粒分析	▲晶粒度評級
▲含量百分比	▲層厚測量	▲孔隙率分析

 
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